探针测试probe
服务介绍：探针台主要应用于半导体行业、光电行业。针对集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
服务范围：8寸以内wafer，ic测试，ic设计等
服务内容：1.微小连接点信号引出
2.失效分析失效确认
3.fib电路修改后电学特性确认
4.晶圆可靠性验证
芯片失效分析实验室介绍，能够依据、国内和行业标准实施检测工作，开展从底层芯片到实际产品，从物理到逻辑全面的检测工作，提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全、功能、兼容性和多点激光注入等安全检测服务，同时可开展模拟重现智能产品失效的现象，找出失效原因的失效分析检测服务，主要包括点针工作站（probe station）、反应离子刻蚀（rie）、微漏电侦测系统（emmi）、x-ray检测，缺陷切割观察系统（fib系统）等